拉撒路效应 - 维基百科,自由的百科全书

拉撒路效应(英語:Lazarus effect):半导体探测器在高能粒子等辐射环境下应用时,体内产生许多间隙原子和空位;由于它们捕获信号中的电子空穴过多而不能使用。但约在-143摄氏度下,又能重新恢复性能和应用。这种现象,称为拉撒路效应。这种效应是1997年瑞士伯尔尼大学维托里奥·帕尔迈库尔特·波莱等人发现的[1]。他们对这效应还做了如下的解析:

半导体探测器室温下在高能粒子等辐射作用下,体内出现许多缺陷,捕获信号的电子和空穴;后把它们发射回导带或价带;但所需时间要比探测器的读出时间长。结果,使读出信号比应有信号小许多,使信/噪比过小而不能使用。 但在低温下,探测器由于点阵的低热能,电子或空穴被局域缺陷捕获很长时间,这样,使大部“陷阱”都被占满而不起作用。这样使探测器的信号丢失很少或不丢失。探测器的性能得到恢复而能重新使用。

参考文献

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  1. ^ Vittorio Giulio Palmieri,Kurt Borer et al.(1998)"Evidence for charge collection efficiency recovery in heavily irradiated sillicon detectors operated at cryogenic temperatures"(in German),Nuclear instruments and Methods in Physics Research Section A: Accelerators, Spectrometers,Detectors and Associated Equipment 413(2-3):PP.475-478